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德国 BYK 毕克微型光泽度仪 4567

发布时间:2025-08-12浏览次数:1008
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德国 BYK 毕克微型光泽度仪 4567

45° 专用测量角度 | 薄膜与陶瓷光泽检测 | 高精度工业标准

制造商:德国 BYK(毕克)
测量角度:45°(薄膜、陶瓷及特殊塑料专用)
执行标准:符合 ISO、ASTM、DIN、CIE 国际光泽度检测标准

德国 BYK 4567 专为陶瓷表面、塑料薄膜、特殊光学材料等设计,采用 45° 测量角度9 × 13 mm 测量面积,在应对弯曲、纹理或不规则表面时依然保持高精确度和可重复性。
配备 长寿命 LED 光源,免更换、免维护,即开即测,结合 Smart-Chart 数据管理软件,为生产现场提供高效率光泽监控与完整质量追溯。

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核心优势与特点

1. 专业 45° 测量方案

  • 针对陶瓷、薄膜及特殊塑料的国际标准测量角度

  • 有效应对光泽度变化敏感的材料表面

  • 测量区域精确至 9 × 13 mm,适合小面积样品

2. LED 长寿命光源与免校正设计

  • 高稳定性 LED 光源,寿命长达 10 年

  • 开机自动校准,无需额外维护

  • 测量结果符合 CIE 光学标准,全球可追溯

3. Smart-Chart 数据管理

  • 光泽数据实时传输至 PC

  • 自动生成统计图表与趋势曲线

  • 便于质量分析与工艺改进

4. 广泛适用的材料与行业

  • 陶瓷:亮光釉面、亚光砖、艺术陶瓷

  • 薄膜:塑料膜、包装膜、光学薄膜

  • 塑料:特种工程塑料、装饰性塑胶件

  • 特殊涂层:功能性膜层、光学镀膜


德国BYK毕克微型光泽度仪 4567产品参数
型号
4567
名称微型光泽仪 45
角度45°
应用陶瓷、塑料、薄膜
测量面积9 x 13 mm (0.35x 0.5in)
测量范围

0-100 GU

100 -2000 GU

重复性

+0.2 GU

±0.2% 

重现性

±0.5 GU

+0.5%

光谱敏感度用于CIE-C光源的观察器,符合CIE1931标准
测量时间0.5秒/角度
厚度
底材Fe:磁性  NFe:非磁性
测量范围0 - 500 m (0-20 mils)
精度±(1.5 um +2%测量值)
存储999个读数带日期和时间
接口USB
电源节1.5VAA碱性电池测量4000个读数或者通过USB端口
尺寸155x73x48 mm (6.1x2.9x1.9in)
重量0.4 kg (0.9 lbs)
操作温度15-40°C(60 -104)
相对湿度高达85%,无凝露
基本配置主机、带校准板的底座、可追溯的证书、USB线缆、电池、操作手册、电池携带箱
可下载软件smart-lab Gloss或 smart-process Gloss 含2个许可证80x 1024 或更高

 注意:软件下载后所有的软件包可以免费试用30天。之后,用户需决定并注册其中一个软件包。


系统要求

  • 操作系统:Windows 7 SP1 / Windows 8.1

  • 运行环境:Microsoft .NET Framework

  • 处理器:Core 2 Duo 2.2 GHz / Intel i7 或同等性能

  • 内存:4 GB RAM(建议 8 GB)

  • 硬盘空间:≥ 300 MB

  • 显示器:1280×1024 分辨率或更高

  • 接口:USB 端口


标准配置

配件说明
BYK 4567 主机45° 光泽度测量
校准底座(含校准板)保证测量精度与长期稳定性
出厂可追溯证书符合国际检测标准
USB 数据线连接 PC 传输数据
电池即装即用
操作手册中英文版本
便携保护箱方便携带与存放

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