QNix4200 与 QNix4500 有何不同？从结构原理看涂层测厚仪选型

在选择涂层测厚仪时， 很多用户容易只关注量程或精度， 却忽略了结构形式对测量应用的影响。

德国尼克斯 QNix4200 与 QNix4500， 正是两种不同结构设计理念的代表。

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一体式结构：QNix4200 的设计逻辑

QNix4200 采用主机与探头一体化设计， 测量时探头与显示单元保持固定关系， 这种结构带来的优势是：

• 测量稳定，受人为操作影响小

• 结构简单，故障率低

• 适合标准工件与常规检测

因此，QNix4200 更偏向于日常质量控制型测量工具。

分体式结构：QNix4500 的应用扩展性

QNix4500 采用主机与探头分离结构， 探头可独立进入测量区域， 而显示与操作在主机端完成。

这种设计带来的核心价值在于：

• 测量空间不再受主机体积限制

• 适合多角度、复杂表面测量

• 更容易适配不同探头类型

同时，QNix4500 支持磁性与涡流双原理， 在多基体环境下测量更加灵活。

结构不同，选型逻辑也不同

• 标准化生产检测：QNix4200

• 工程检测与复杂工况：QNix4500

• 厚涂层与多材质：QNix4500 更有优势

理解结构差异， 是避免选型失误的关键一步。

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